产品描述 此系列机型是简约紧凑型设计,操作简单维护方便,可以适合快速的抽检和一般性的BGA分析检测。 手动导航并可角度旋转; 体积精巧、不占空间、便于移动; 双制式增强器、高分辨率、高放大率; 满足快速检测需求,高性价比的较佳机型。 BGA, CSP, 倒装芯片, QFP 和半导体 适用于 SMT 工艺发展,生产监督 支持返修技术 型号 AX7100L 整机状态 尺寸:850mm(W)×1000mm(D)×1590mm(H) 重量:580KG 供电:220VC/50Hz 湿度:30-70RH 温度 :0?C-40?C 几何放大倍率:150× 功率:0.3KW 工作模式 离线 检测维度 2D 光管 光管类型:封闭管 较大管电压:100KV (TF) 较大管电流:0.15mA 聚焦尺寸:5μm X射线发射角度:60度 使用寿命:5000小时 光管运动形程:80mm(手动) 影响探测器 标准配置:4″/2″增强器 145万像数, 帧率15FPS 像元尺寸: 4.65μm*4.65μm 影像灰阶度:12bit 较大视场:100mmX100mm/50mmX50mm(4″/2″) 运动形程:250mm(手动) 载物台(带旋转+70?) 尺寸: 420mm×360mm 检测区域:400mm×250mm 夹具:无 较大载重量:5KG 操作显示 显示器:SAMSUNG 19寸液晶 操作系统:Windows XP系统 软件版本:AX-DXI系统3.0版 控制方式 手动控制 安全性 ﹤1μSv/h / 0.5mr/h 导航模块 无